Die Informatik des Fachbereiches 3 der Universität Bremen Hier geht es zur Homepage der Verwaltung des Fachbereiches 3 der Universität Bremen Hier geht es zur Homepage der Informatik des Fachbereiches 3 der Universität Bremen Hier geht es zur Homepage der Mathematik des Fachbereiches 3 der Universität Bremen Hier geht es zur Homepage des Fachbereiches 3 der Universität Bremen Hier geht es zur Homepage der Universität Bremen


 




Zeige Informatik-Format Pdf_icon Systems Engineering-Format Pdf_icon Wirtschaftsinformatik-Format Pdf_icon Digitale Medien-Format Pdf_icon

Informatik-Ansicht

Test von Schaltungen und Systemen


Test Methods of Circuits and Systems 		Modulnummer
MB-701.08
Master
Pflicht/Wahl
Wahl Basis Ergänzung
Sonderfall
Zugeordnet zu Masterprofil
Basis Ergänzung
Sicherheit und Qualität
KI, Kognition, Robotik
Digitale Medien und Interaktion
Modulbereich : Praktische und Technische Informatik
Modulteilbereich : 701 Rechnerarchitektur
Anzahl der SWS
V UE K S Prak. Proj. ∑
2 2 0 0 0 0 4
Kreditpunkte : 6 Turnus

i.d.R. angeboten alle 2 Semester

Formale Voraussetzungen : -
Inhaltliche Voraussetzungen : -
Vorgesehenes Semester : ab 1. Semester
Sprache : Deutsch
Ziele :
  • Das Problem des Testens verstehen und erklären können
  • Den Testverlauf für Schaltungen und Systeme kennen und anwenden können
  • Klassische und moderne Testverfahren kennen und anwenden können
  • Die Algorithmen auf (Schaltkreis-)Graphen anwenden können
  • Die Komplexität der Verfahren verstehen und erklären können
Inhalte :

  1. Physikalische Fehlerursachen

  2. Abstraktion von der physikalischen Ebene, Fehlermodelle

  3. Algorithmen zur Berechnung von Signalwahrscheinlichkeiten

  4. Techniken zur Manipulation Boolescher Funktionen

  5. Algorithmen zur Fehlersimulation

  6. Algorithmen zur Testmustergenerierung

  7. Nutzung strukturellen Wissens zur Effizienzsteigerung

  8. Techniken zur Reduktion des Suchraumes, Fehleräquivalenz und -dominanz

Aus den Inhalten ist deutlich zu erkennen, dass theoretisch/methodische Grundlagen einen wichtigen Teil dieser Vorlesung darstellen. Darüber hinaus werden für die vorgestellten Verfahren die Komplexitäten hinsichtlich Laufzeit und Speicher betrachtet.
Unterlagen (Skripte, Literatur, Programme usw.) :

  • M.L. Bushnell, V.D. Agrawal: Essentials of Electronic Testing – for Digital, Memory & Mixed-Signal VLSI Circuits, New York: Springer, 2000.

  • N. Jha, S. Gupta: Testing of Digital Systems, Cambridge University Press, 2003.

  • A. Miczo: Digital Logic Testing and Simulation, 2. Auflage, Wiley, 2003.

  • H. Wojtkowiak: Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen, Teubner, 1988.

  • H.-J. Wunderlich: Hochintegrierte Schaltungen: Prüfgerechter Entwurf und Test, Berlin: Springer, 1991.
Form der Prüfung : i. d. R. Bearbeitung von Übungsaufgaben und Fachgespräch oder mündliche Prüfung
Arbeitsaufwand
Präsenz 56
Übungsbetrieb/Prüfungsvorbereitung 124
Summe 180 h
Lehrende: Prof. Dr. R. Drechsler Verantwortlich Prof. Dr. R. Drechsler
Zurück

Zeige Informatik-Format Pdf_icon Systems Engineering-Format Pdf_icon Wirtschaftsinformatik-Format Pdf_icon Digitale Medien-Format Pdf_icon