Die Informatik des Fachbereiches 3 der Universität Bremen Hier geht es zur Homepage der Verwaltung des Fachbereiches 3 der Universität Bremen Hier geht es zur Homepage der Informatik des Fachbereiches 3 der Universität Bremen Hier geht es zur Homepage der Mathematik des Fachbereiches 3 der Universität Bremen Hier geht es zur Homepage des Fachbereiches 3 der Universität Bremen Hier geht es zur Homepage der Universität Bremen


 




Zeige Wirtschaftsinformatik-Format Pdf_icon Informatik-Format Pdf_icon Digitale Medien-Format Pdf_icon Systems Engineering-Format Pdf_icon

System Engineering-Ansicht

Modultyp
Vertiefung 		Pflichtmodul Wahlbereich
Spezialisierungsbereich Anzahl Semesterwochenstunden CP Angeboten in jedem
V Ü S P Proj. ∑ Anzahl
Test von Schaltungen und Systemen
2 2 0 0 0 4 6 i.d.R. angeboten alle 2 Semester
Test Methods of Circuits and Systems         Berechnung des Workloads
Vorgesehenes Semester ab 1. Semester
Lernziele

  • Das Problem des Testens verstehen und erklären können
  • Den Testverlauf für Schaltungen und Systeme kennen und anwenden können
  • Klassische und moderne Testverfahren kennen und anwenden können
  • Die Algorithmen auf (Schaltkreis-)Graphen anwenden können
  • Die Komplexität der Verfahren verstehen und erklären können

Lerninhalte

  1. Physikalische Fehlerursachen

  2. Abstraktion von der physikalischen Ebene, Fehlermodelle

  3. Algorithmen zur Berechnung von Signalwahrscheinlichkeiten

  4. Techniken zur Manipulation Boolescher Funktionen

  5. Algorithmen zur Fehlersimulation

  6. Algorithmen zur Testmustergenerierung

  7. Nutzung strukturellen Wissens zur Effizienzsteigerung

  8. Techniken zur Reduktion des Suchraumes, Fehleräquivalenz und -dominanz

Aus den Inhalten ist deutlich zu erkennen, dass theoretisch/methodische Grundlagen einen wichtigen Teil dieser Vorlesung darstellen. Darüber hinaus werden für die vorgestellten Verfahren die Komplexitäten hinsichtlich Laufzeit und Speicher betrachtet.
Prüfungsformen

i. d. R. Bearbeitung von Übungsaufgaben und Fachgespräch oder mündliche Prüfung
Dokumente (Skripte, Programme, Literatur, usw.)

  • M.L. Bushnell, V.D. Agrawal: Essentials of Electronic Testing – for Digital, Memory & Mixed-Signal VLSI Circuits, New York: Springer, 2000.

  • N. Jha, S. Gupta: Testing of Digital Systems, Cambridge University Press, 2003.

  • A. Miczo: Digital Logic Testing and Simulation, 2. Auflage, Wiley, 2003.

  • H. Wojtkowiak: Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen, Teubner, 1988.

  • H.-J. Wunderlich: Hochintegrierte Schaltungen: Prüfgerechter Entwurf und Test, Berlin: Springer, 1991.
Lehrende: Prof. Dr. R. Drechsler Verantwortlich: Prof. Dr. R. Drechsler
Zurück

Zeige Wirtschaftsinformatik-Format Pdf_icon Informatik-Format Pdf_icon Digitale Medien-Format Pdf_icon Systems Engineering-Format Pdf_icon