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System Engineering-Ansicht

Modultyp
Vertiefung
Pflichtmodul Wahlbereich
Spezialisierungsbereich Anzahl Semesterwochenstunden CP Angeboten in jedem
V Ü S P Proj. Anzahl
Testautomatisierung
2 2 0 0 0 4 6 i. d. R. angeboten alle 2 Jahre
Test Automation         Berechnung des Workloads
Vorgesehenes Semester ab 1. Semester
Lernziele

Die Studierenden verfügen über ein vertieftes Verständnis für

  • Testfallentwurf

  • Bezug zwischen Anforderungen und Testfällen

  • Modell-basierte Testfallerzeugung

  • Algorithmen für die automatische Testfall-/Testdatenerzeugung

  • Äquivalenz zwischen erschöpfenden Tests und Korrektheitsbeweis

Lerninhalte

  1. Vorgehensmodelle und Testprozess

  2. Testarten auf unterschiedlichen Systemebenen

  3. Modell-basiertes Testen - die W-Methode von Chow

  4. Strukturelles Testen

  5. Modell-basiertes Testen von Echtzeitsystemen

  6. Spezialthemen aus den Gebieten

    • SMT-Solver für die Berechnung konkreter Testdaten
    • Äquivalenzklassentests für nebenläufige Echtzeitsysteme
    • Überdeckungskriterien und ihr Bezug zum Korrektheitsbeweis
    • Mutationstests

Prüfungsformen

i.d.R. Bearbeitung von Übungsaufgaben und Fachgespräch oder mündliche Prüfung

Dokumente (Skripte, Programme, Literatur, usw.)

  • R. Binder “Testing Object-Oriented Systems: Models, Patterns, and Tools”, Addison-Wesley, 2000

  • A. Spillner, T. Linz “Basiswissen Softwaretest: Aus- und Weiterbildung zum Certified-Tester”, dpunkt-Verlag, 2003.

  • J. Peleska und M. Siegel “Test Automation of Safety-Critical Reactive Systems”, South African Computer Journal, No. 19, pp. 53-77, 1997.

  • J. Peleska “Formal Methods and the Development of Dependable Systems”, Habilitationsschrift, Bericht Nr. 9612, Dezember 1996, Institut für Informatik und praktische Mathematik, Christian-Albrechts-Universität Kiel, 1997.

  • Tsun S. Chow “Testing Software Design Modeled by Finite-State Machines”, IEEE Transactions on Software Engineering, SE-4(3), pp. 178-186, März 1978.

Lehrende: Prof. Dr. J. Peleska Verantwortlich: Prof. Dr. J. Peleska
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